简介:摘要论文通过ADAMS/insight分析了橡胶衬套对定位参数的灵敏度问题,为有针对性的设计衬套和悬架提供了依据。
简介:Si1-x-yGexCy是继Si和GaAs之后又一重要的半导体材料。由于Si1-x-yGexCy具有优于纯Si材料的良好特性,器件和制程又可与SL工艺兼容,采用Si1-x-yGexCy及其Si1-x-yGexCy/Si结所制作出来的器件如异质结双极晶体管(HeterojunctionBipolarTransistor,HBT),其电性能几乎可达到GaAs等化合物半导体制作的同类器件的水平,而且在成本上低于GaAsHBT。因此Si1-x-yGexCy可能是未来微电子发展进程中必不可少、并起着关键作用的一种材料。文章对Si1-x-yGexCy薄膜的表征进行了探索,在总结大量数据的基础上,验证了利用Si1-x-yGexCy薄膜的反射率进行光学表征的方法的可行性。同时,文章系统研究了Si1-x-yGexCy薄膜的工艺条件、薄膜成份、薄膜厚度等参数对光刻对准性能的影响。
简介:光缆抢修会遇到许多实际问题,如客观地理条件制约或缺乏同一厂家生产的备用缆线,于是不得不采取在原有缆线中接入短段光缆的做法。这是较常见的一种情况,在此情况下,使用光时域反射仪(OTDR)测试线路时应注意方法,否则有可能延误修复时间。1994年年底我们帮助抢修漳州至漳浦地段光缆线路。在抢修中接入了60米长的一短段光缆,当该缆接续完毕后,队漳州机房往漳浦方向用OTDR测试时(如图所示),发现第一个接头点断一芯。于是即通知现场抢修处理。但抢修人经认真查找却未发现第一接头点有断纤现象。却在第二接头盒里找到了这一断纤,在查找过程中浪费了很多宝贵时间。